安(an)規(gui)測(ce)試知(zhi)識(shi) 有那(na)些要(yao)註(zhu)意(yi)的？

安(an)規測(ce)試知(zhi)識(shi)

1． 1測(ce)試的重(zhong)要(yao)性
在消費意(yi)識(shi)高漲(zhang)的今(jin)天(tian)，每(mei)壹(yi)個(ge)電(dian)氣(qi)和(he)電(dian)子(zi)產(chan)品的制造商，必須盡(jin)大(da)的能(neng)力，將(jiang)產(chan)品的安(an)全(quan)做(zuo)好。每(mei)壹(yi)種(zhong)產(chan)品的設(she)計必須(xu)盡(jin)其可能(neng)，不讓使用者有觸(chu)電(dian)的機(ji)會(hui)。縱然(ran)是(shi)使用者發生錯(cuo)誤(wu)也應不會(hui)觸電(dian)。為了(le)達(da)到壹(yi)般(ban)*的安(an)全(quan)要求(qiu)，就必須使用“耐(nai)壓(ya)測(ce)試儀(yi)"。目前(qian)安(an)規(gui)執(zhi)行單(dan)位，例(li)如(ru)UL CSA IEC BSI VDE TUV和JSI等(deng)都要求(qiu)各(ge)制造商在設(she)計和生產(chan)電(dian)子(zi)或電(dian)氣(qi)產(chan)品時(shi)要(yao)使用“耐(nai)壓(ya)測(ce)試儀(yi)"作(zuo)安全(quan)測(ce)試。

2．2 耐(nai)壓(ya)測(ce)試
如(ru)果壹(yi)個(ge)產(chan)品能(neng)在非(fei)常惡劣(lie)的環(huan)境下正(zheng)常工作(zuo)，就(jiu)可以確(que)定在正常的環(huan)境下也(ye)壹(yi)定可以很正(zheng)常的工(gong)作(zuo)。常使用耐(nai)壓(ya)測(ce)試的情況(kuang)為：

·設(she)計時的功(gong)能(neng)測(ce)試——確(que)定所設(she)計的產(chan)品能(neng)達(da)到其(qi)功(gong)能(neng)要求(qiu)的條(tiao)件(jian)。
·生產(chan)時(shi)的規(gui)格(ge)測(ce)試——確(que)認(ren)所(suo)生產(chan)的產(chan)品能(neng)達(da)到其(qi)規(gui)格要求的條(tiao)件(jian)。
·品保(bao)時(shi)的確(que)認(ren)測(ce)試——確(que)認(ren)產(chan)品的品質(zhi)能(neng)符(fu)合(he)安(an)規(gui)的標(biao)準。
·維(wei)修(xiu)後的安(an)全(quan)測(ce)試——確(que)認(ren)維(wei)修後的產(chan)品能(neng)維持(chi)符(fu)合(he)安(an)規(gui)的標(biao)準。

不(bu)同的產(chan)品有不(bu)同的技術規(gui)格(ge)，基本(ben)上(shang)在耐壓測(ce)試時(shi)是(shi)將(jiang)壹(yi)個(ge)高(gao)於(yu)正(zheng)常工作(zuo)的電(dian)壓加(jia)在產(chan)品上(shang)測(ce)試，這(zhe)個電(dian)壓必(bi)須(xu)持(chi)續壹(yi)段(duan)時(shi)間(jian)。如果壹(yi)個(ge)零(ling)部(bu)件(jian)在規定時間(jian)內，其(qi)漏電(dian)流(liu)也保(bao)持(chi)在規定的範(fan)圍內(nei)就可以確(que)定這(zhe)個零(ling)部(bu)件(jian)在正常的條(tiao)件(jian)下工作，應該(gai)是(shi)非(fei)常安全(quan)的。而(er)優(you)良(liang)的設(she)計和選擇良好的絕緣材料可以保證用戶(hu)免(mian)於觸(chu)電(dian)。

本(ben)儀(yi)器(qi)所(suo)做(zuo)的耐(nai)壓(ya)測(ce)試，壹(yi)般(ban)稱(cheng)之為“高(gao)電(dian)壓介(jie)電(dian)測(ce)試"，簡(jian)稱(cheng)為“耐(nai)壓測(ce)試"。基(ji)本(ben)的規(gui)定是(shi)2×待(dai)測(ce)物(wu)的工(gong)作(zuo)電(dian)壓+1000V，作(zuo)為測(ce)試的電(dian)壓標(biao)準。有些(xie)產(chan)品的測(ce)試電(dian)壓可(ke)能(neng)高於(yu)2×工(gong)作(zuo)電(dian)壓+1000V。例(li)如(ru)有些(xie)產(chan)品的工(gong)作(zuo)電(dian)壓範(fan)圍是(shi)從(cong)100V到240V，這(zhe)類產(chan)品的測(ce)試電(dian)壓可(ke)能(neng)在1000V到4000V之間(jian)或更高。壹(yi)般(ban)而(er)言，具有“雙(shuang)絕緣"設(she)計的產(chan)品，其(qi)使用的測(ce)試電(dian)壓可(ke)能(neng)高於(yu)2×工(gong)作(zuo)電(dian)壓+1000V的標(biao)準。

耐(nai)壓(ya)測(ce)試在產(chan)品的設(she)計和樣(yang)品制作(zuo)時(shi)比正(zheng)式(shi)生產(chan)時(shi)的測(ce)試更(geng)為精(jing)密，因(yin)為產(chan)品在設(she)計測(ce)試階(jie)段(duan)便(bian)已決(jue)定產(chan)品的安(an)全(quan)性。雖然(ran)在產(chan)品設(she)計時只(zhi)是(shi)用少(shao)數樣(yang)品來(lai)作判(pan)斷，然(ran)而生產(chan)時(shi)的線上(shang)測(ce)試更(geng)應嚴格(ge)要求(qiu)所(suo)有的產(chan)品都(dou)必(bi)須能(neng)通(tong)過安規標(biao)準，可(ke)以確(que)認(ren)沒(mei)有次(ci)品會(hui)流(liu)出(chu)生產(chan)線。

耐壓測(ce)試儀(yi)的輸(shu)出(chu)電(dian)壓必(bi)須(xu)保(bao)持(chi)在規定電(dian)壓的到120%的範(fan)圍內(nei)。AC耐壓測(ce)試儀(yi)的輸(shu)出(chu)頻(pin)率必(bi)須(xu)維(wei)持(chi)在40到70Hz之間(jian)，同時其(qi)波峰(feng)值不得低(di)於(yu)均(jun)方(fang)根（RMS）電(dian)壓值的1.3倍(bei)，並且(qie)其(qi)波峰(feng)值不得高(gao)於(yu)均(jun)方(fang)根（RMS）電(dian)壓值的1.5倍(bei)。

2．3交(jiao)流(liu)（AC）測(ce)試和(he)直(zhi)流(liu)（DC）測(ce)試的優(you)缺(que)點

請(qing)先(xian)與被測(ce)試產(chan)品所(suo)的安(an)規(gui)單位(wei)確(que)認(ren)該(gai)產(chan)品應該(gai)使用何(he)種(zhong)電(dian)壓，有些(xie)產(chan)品可(ke)以同時接(jie)受(shou)直流(liu)和交(jiao)流(liu)兩種(zhong)測(ce)試選擇，但(dan)是(shi)仍(reng)然(ran)有多種(zhong)產(chan)品只(zhi)允(yun)許(xu)接(jie)受(shou)直流(liu)或交流(liu)中(zhong)的壹(yi)種(zhong)測(ce)試。如(ru)果安(an)規(gui)規(gui)範(fan)允(yun)許(xu)同時接(jie)受(shou)直流(liu)或交流(liu)測(ce)試，制造商就可以自己(ji)決(jue)定哪種(zhong)測(ce)試較(jiao)適(shi)用於(yu)自(zi)己的產(chan)品。為了(le)達(da)成此(ci)目的，使用者必(bi)須了(le)解直(zhi)流(liu)和交(jiao)流(liu)測(ce)試的優(you)缺(que)點。

2．3．1交(jiao)流(liu)耐壓(ya)（ACW）測(ce)試的特(te)點
大(da)部(bu)分(fen)做(zuo)耐壓(ya)測(ce)試的待(dai)測(ce)物(wu)都(dou)會(hui)含(han)有壹(yi)些(xie)雜(za)散(san)電(dian)容。用交(jiao)流(liu)測(ce)試時(shi)可(ke)能(neng)無(wu)法(fa)充滿這(zhe)些雜(za)散(san)電(dian)容，會(hui)有壹(yi)個(ge)持(chi)續電(dian)流(liu)流(liu)過這(zhe)些電(dian)容。

2.3.1.1交(jiao)流(liu)耐壓(ya)（ACW）測(ce)試的優(you)點(dian)
1.壹(yi)般(ban)而(er)言，交(jiao)流(liu)測(ce)試比(bi)直(zhi)流(liu)測(ce)試更(geng)容(rong)易(yi)被(bei)安規單位(wei)接(jie)受(shou)。主(zhu)因是(shi)大(da)部(bu)分(fen)的產(chan)品都(dou)使用交(jiao)流(liu)電(dian)，而交(jiao)流(liu)測(ce)試可(ke)以同時對(dui)產(chan)品作(zuo)正(zheng)負極(ji)性的測(ce)試，與(yu)產(chan)品使用的環(huan)境*壹(yi)致(zhi)，合(he)乎(hu)實(shi)際(ji)使用狀況(kuang)。
2.由(you)於交流(liu)測(ce)試時(shi)無(wu)法(fa)充飽那(na)些雜(za)散(san)電(dian)容，但(dan)不會(hui)有瞬(shun)間(jian)沖擊(ji)電(dian)流(liu)發生，因此(ci)不(bu)需(xu)要(yao)讓測(ce)試電(dian)壓緩慢(man)上(shang)升，可以壹(yi)開(kai)始(shi)測(ce)試就(jiu)全(quan)電(dian)壓加(jia)上(shang)，除非(fei)這(zhe)種(zhong)產(chan)品對(dui)沖(chong)擊電(dian)壓很(hen)敏感。
3.由(you)於交(jiao)流(liu)測(ce)試無(wu)法(fa)充滿那(na)些雜(za)散(san)電(dian)容，在測(ce)試後不(bu)必(bi)對測(ce)試物(wu)作(zuo)放電(dian)的動(dong)作(zuo)，這(zhe)是(shi)另(ling)外(wai)壹(yi)個(ge)優(you)點(dian)。

2.3.1.2交(jiao)流(liu)（AC）測(ce)試的缺(que)點
1.主(zhu)要的缺(que)點為，如(ru)果待(dai)測(ce)物(wu)的雜(za)散(san)電(dian)容量很大(da)或待測(ce)物(wu)為電(dian)容性負載(zai)時，這(zhe)樣(yang)所產(chan)生的電(dian)流(liu)會遠(yuan)大(da)於(yu)實(shi)際(ji)的漏(lou)電(dian)電(dian)流(liu)，因而(er)無(wu)法(fa)得知(zhi)實(shi)際(ji)的漏(lou)電(dian)電(dian)流(liu)。
2.另外(wai)壹(yi)個(ge)缺(que)點是(shi)由(you)於(yu)必(bi)須(xu)供應待測(ce)物(wu)的雜(za)散(san)電(dian)容所(suo)需(xu)的電(dian)流(liu)，儀器(qi)所(suo)需輸出(chu)的電(dian)流(liu)會比(bi)采(cai)用直(zhi)流(liu)測(ce)試時(shi)的電(dian)流(liu)大(da)很(hen)多。這(zhe)樣(yang)會增(zeng)加(jia)操作人員(yuan)的危(wei)險(xian)性。

2.3. 2直流(liu)（DC）測(ce)試的特(te)點
在直流(liu)耐壓(ya)測(ce)試時(shi)，待(dai)測(ce)物(wu)上(shang)的雜(za)散(san)電(dian)容被(bei)充滿，直(zhi)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試時(shi)所(suo)造成的容(rong)性電(dian)流(liu)，在雜散電(dian)容被(bei)充滿後，會(hui)下(xia)降到零(ling)。

2.3.2.1直(zhi)流(liu)（DC）測(ce)試的優(you)點(dian)
1.壹(yi)旦待測(ce)物(wu)上(shang)雜(za)散(san)電(dian)容被(bei)充滿，只(zhi)會剩(sheng)下待(dai)測(ce)物(wu)實(shi)際(ji)的漏(lou)電(dian)電(dian)流(liu)。直流(liu)耐壓(ya)測(ce)試可(ke)以很清(qing)楚(chu)的顯示出(chu)待(dai)測(ce)物(wu)實(shi)際(ji)的漏(lou)電(dian)電(dian)流(liu)。
2.另外(wai)壹(yi)個(ge)優(you)點(dian)是(shi)由(you)於(yu)僅需在短(duan)時間(jian)內，供(gong)應待測(ce)物(wu)的充電(dian)電(dian)流(liu)，其它(ta)時間(jian)所需(xu)供的電(dian)流(liu)非(fei)常小，所(suo)以儀器(qi)的電(dian)流(liu)容量遠低(di)於交(jiao)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試時(shi)所(suo)需的電(dian)流(liu)容量。

2.3.2.2直流(liu)（DC）測(ce)試的缺(que)點
1.除非(fei)待(dai)測(ce)物(wu)上(shang)沒(mei)有任何(he)電(dian)容量存(cun)在，否則測(ce)試電(dian)壓必(bi)須(xu)由(you)“零(ling)"開(kai)始(shi)，緩慢(man)上(shang)升，以避免(mian)充電(dian)電(dian)流(liu)過大(da)，電(dian)容量越(yue)大(da)所(suo)需的緩升時間(jian)越(yue)長(chang)，壹(yi)次(ci)所(suo)能(neng)增加(jia)的電(dian)壓也(ye)越(yue)低(di)。充電(dian)電(dian)流(liu)過大(da)時(shi)，壹(yi)定會引(yin)起(qi)測(ce)試器(qi)的誤(wu)判(pan)，使測(ce)試的結(jie)果不(bu)正(zheng)確(que)。
2.由(you)於(yu)直流(liu)耐壓(ya)測(ce)試會(hui)對(dui)待測(ce)物(wu)充電(dian)，所以在測(ce)試後，壹(yi)定要先(xian)對待測(ce)物(wu)放(fang)電(dian)，才(cai)能(neng)做(zuo)下壹(yi)步(bu)工(gong)作(zuo)。
3.與(yu)交流(liu)測(ce)試不(bu)壹(yi)樣(yang)，直流(liu)耐壓(ya)測(ce)試只(zhi)能(neng)單壹(yi)極(ji)性測(ce)試，如(ru)果產(chan)品要(yao)使用於(yu)交(jiao)流(liu)電(dian)壓下(xia)，這(zhe)個缺(que)點必(bi)須考慮。這(zhe)也是(shi)大(da)多數安(an)規單位(wei)都建議(yi)使用交(jiao)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試的原(yuan)因。
4.在交流(liu)測(ce)試時(shi)，電(dian)壓的波峰(feng)值是(shi)電(dian)表(biao)顯示的1.4倍(bei)，這(zhe)壹(yi)點(dian)是(shi)壹(yi)般(ban)電(dian)表(biao)所不(bu)能(neng)顯示的，也(ye)是(shi)直(zhi)流(liu)耐壓(ya)所(suo)無(wu)法(fa)達(da)到的。所(suo)以多數安(an)規單位(wei)都要求，如果使用直(zhi)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試，必(bi)須(xu)提(ti)高測(ce)試電(dian)壓到相(xiang)等(deng)的數值。

2.4只(zhi)有耐(nai)壓測(ce)試能(neng)檢(jian)測(ce)出(chu)下(xia)列狀況(kuang)
·絕緣材料的絕緣強(qiang)度太弱
·絕緣體上(shang)有針(zhen)孔(kong)
·零(ling)組件(jian)之間(jian)的距離(li)不(bu)夠
·絕緣體被擠壓(ya)而(er)破裂(lie)