安(an)規測試(shi)知(zhi)識(shi)

安(an)規測試(shi)知(zhi)識(shi)

1． 1測試的(de)重(zhong)要性
在(zai)消費(fei)意識(shi)高(gao)漲的(de)今天(tian)，每(mei)壹(yi)個(ge)電氣(qi)和電(dian)子產(chan)品(pin)的(de)制造(zao)商(shang)，必須盡大的(de)能力(li)，將產(chan)品(pin)的(de)安(an)全(quan)做好(hao)。每壹(yi)種產(chan)品(pin)的(de)設(she)計必須盡其(qi)可(ke)能，不讓(rang)使(shi)用者有觸(chu)電的(de)機會。縱然(ran)是使(shi)用者發(fa)生錯(cuo)誤也應(ying)不(bu)會觸(chu)電。為了(le)達(da)到壹(yi)般*的(de)安(an)全(quan)要求(qiu)，就必須使(shi)用“耐壓(ya)測試(shi)儀"。目前安(an)規執(zhi)行(xing)單位(wei)，例(li)如(ru)UL CSA IEC BSI VDE TUV和JSI等都要求(qiu)各制造(zao)商(shang)在(zai)設(she)計和生產(chan)電(dian)子或(huo)電氣(qi)產品(pin)時(shi)要使(shi)用“耐壓(ya)測試(shi)儀"作安(an)全(quan)測試(shi)。

2．2 耐壓(ya)測試(shi)
如(ru)果壹(yi)個(ge)產品(pin)能在(zai)非常惡劣(lie)的(de)環境(jing)下正(zheng)常工作，就可(ke)以(yi)確定在(zai)正(zheng)常的(de)環境(jing)下也壹(yi)定(ding)可以(yi)很(hen)正(zheng)常的(de)工作。常使(shi)用耐壓(ya)測試(shi)的(de)情(qing)況為：

·設(she)計時(shi)的(de)功能(neng)測(ce)試(shi)——確定所(suo)設(she)計的(de)產品(pin)能達(da)到其(qi)功能(neng)要求(qiu)的(de)條件(jian)。
·生產(chan)時(shi)的(de)規格(ge)測試(shi)——確認(ren)所(suo)生產(chan)的(de)產品(pin)能達(da)到其(qi)規格(ge)要求(qiu)的(de)條件(jian)。
·品(pin)保時(shi)的(de)確認(ren)測(ce)試(shi)——確認(ren)產(chan)品(pin)的(de)品(pin)質能(neng)符合安(an)規的(de)標(biao)準(zhun)。
·維(wei)修(xiu)後的(de)安(an)全(quan)測試(shi)——確認(ren)維(wei)修(xiu)後的(de)產品(pin)能維(wei)持(chi)符合安(an)規的(de)標(biao)準(zhun)。

不(bu)同的(de)產品(pin)有不同(tong)的(de)技術規格(ge)，基本(ben)上(shang)在(zai)耐壓(ya)測試(shi)時(shi)是將壹(yi)個(ge)高(gao)於正(zheng)常工作的(de)電壓(ya)加在(zai)產品(pin)上(shang)測試(shi)，這個電(dian)壓必須持(chi)續(xu)壹(yi)段(duan)時(shi)間(jian)。如(ru)果壹(yi)個(ge)零部件(jian)在(zai)規定時(shi)間(jian)內(nei)，其(qi)漏電流也保持(chi)在(zai)規定的(de)範圍內(nei)就可以(yi)確定這個零(ling)部件(jian)在(zai)正(zheng)常的(de)條件(jian)下工作，應(ying)該(gai)是非(fei)常安(an)全(quan)的(de)。而(er)優良(liang)的(de)設(she)計和選(xuan)擇(ze)良(liang)好(hao)的(de)絕(jue)緣材料(liao)可(ke)以(yi)保證(zheng)用戶(hu)免(mian)於觸(chu)電。

本(ben)儀(yi)器(qi)所(suo)做的(de)耐壓(ya)測試(shi)，壹(yi)般稱之為(wei)“高(gao)電壓(ya)介電測(ce)試(shi)"，簡稱為(wei)“耐壓(ya)測試(shi)"。基本(ben)的(de)規定是(shi)2×待測物(wu)的(de)工作電壓(ya)+1000V，作為測(ce)試(shi)的(de)電壓(ya)標(biao)準(zhun)。有些(xie)產(chan)品(pin)的(de)測試(shi)電壓可能高(gao)於2×工作電壓(ya)+1000V。例(li)如(ru)有些(xie)產(chan)品(pin)的(de)工作電壓(ya)範(fan)圍是從(cong)100V到240V，這類(lei)產品(pin)的(de)測試(shi)電壓可能在(zai)1000V到4000V之間(jian)或更(geng)高(gao)。壹(yi)般而(er)言，具(ju)有“雙(shuang)絕(jue)緣"設(she)計的(de)產品(pin)，其(qi)使(shi)用的(de)測試(shi)電壓可能高(gao)於2×工作電壓(ya)+1000V的(de)標(biao)準(zhun)。

耐壓(ya)測試(shi)在(zai)產品(pin)的(de)設(she)計和樣(yang)品(pin)制作時(shi)比正(zheng)式(shi)生產(chan)時(shi)的(de)測試(shi)更為精(jing)密(mi)，因為(wei)產品(pin)在(zai)設(she)計測試(shi)階段(duan)便已決(jue)定(ding)產品(pin)的(de)安(an)全(quan)性。雖(sui)然(ran)在(zai)產品(pin)設(she)計時(shi)只是(shi)用少(shao)數樣(yang)品(pin)來(lai)作判(pan)斷，然(ran)而(er)生產(chan)時(shi)的(de)線上(shang)測試(shi)更(geng)應(ying)嚴格(ge)要求(qiu)所有的(de)產品(pin)都必須能(neng)通過(guo)安(an)規標(biao)準(zhun)，可(ke)以(yi)確認(ren)沒(mei)有次品(pin)會流出生產(chan)線(xian)。

耐壓(ya)測試(shi)儀的(de)輸出電壓必須保持(chi)在(zai)規定電(dian)壓的(de)到120%的(de)範圍內(nei)。AC耐壓(ya)測試(shi)儀的(de)輸出頻率必須維(wei)持(chi)在(zai)40到70Hz之間(jian)，同時(shi)其(qi)波峰(feng)值(zhi)不得(de)低(di)於均(jun)方根（RMS）電(dian)壓(ya)值的(de)1.3倍，並且其(qi)波峰(feng)值(zhi)不得(de)高(gao)於均(jun)方根（RMS）電(dian)壓(ya)值的(de)1.5倍。

2．3交流(liu)（AC）測(ce)試(shi)和(he)直流（DC）測試的(de)優缺(que)點

請先(xian)與(yu)被測試(shi)產品(pin)所的(de)安(an)規單位(wei)確認(ren)該(gai)產(chan)品(pin)應(ying)該(gai)使(shi)用何(he)種電(dian)壓，有些(xie)產(chan)品(pin)可以(yi)同時(shi)接受(shou)直流和交流兩種測(ce)試選(xuan)擇(ze)，但(dan)是(shi)仍然(ran)有多種產(chan)品(pin)只允許接受直流或交流中的(de)壹(yi)種測(ce)試。如(ru)果安(an)規規範允許同時(shi)接受(shou)直流或交流測試(shi)，制造(zao)商(shang)就可以(yi)自(zi)己(ji)決定哪種測(ce)試較(jiao)適用於自(zi)己(ji)的(de)產品(pin)。為了(le)達(da)成(cheng)此目的(de)，使(shi)用者必須了(le)解直流和交流測試(shi)的(de)優缺(que)點。

2．3．1交流(liu)耐壓(ya)（ACW）測試(shi)的(de)特點
大部分(fen)做(zuo)耐壓(ya)測試(shi)的(de)待測物(wu)都會含有壹(yi)些(xie)雜(za)散(san)電(dian)容(rong)。用交(jiao)流(liu)測(ce)試(shi)時(shi)可能(neng)無(wu)法充(chong)滿這些(xie)雜(za)散(san)電(dian)容(rong)，會有壹(yi)個(ge)持(chi)續(xu)電流(liu)流(liu)過(guo)這些(xie)電(dian)容(rong)。

2.3.1.1交(jiao)流(liu)耐壓(ya)（ACW）測試(shi)的(de)優點
1.壹(yi)般而(er)言，交(jiao)流(liu)測(ce)試比(bi)直流測試更容(rong)易(yi)被(bei)安(an)規單位(wei)接受(shou)。主因是(shi)大(da)部分(fen)的(de)產品(pin)都使(shi)用交(jiao)流(liu)電(dian)，而(er)交流(liu)測(ce)試(shi)可以(yi)同時(shi)對產品(pin)作正(zheng)負極(ji)性的(de)測試(shi)，與產品(pin)使(shi)用的(de)環境(jing)*壹(yi)致，合乎(hu)實(shi)際使(shi)用狀況。
2.由(you)於交流(liu)測(ce)試時(shi)無(wu)法充(chong)飽那(na)些(xie)雜(za)散(san)電(dian)容(rong)，但(dan)不(bu)會有瞬間(jian)沖擊電流發(fa)生，因(yin)此(ci)不需(xu)要讓(rang)測試(shi)電壓(ya)緩(huan)慢上(shang)升，可(ke)以(yi)壹(yi)開(kai)始測(ce)試就(jiu)全(quan)電壓(ya)加上(shang)，除(chu)非這種產(chan)品(pin)對沖擊電壓很(hen)敏(min)感(gan)。
3.由(you)於交流(liu)測(ce)試無(wu)法充(chong)滿那(na)些(xie)雜(za)散(san)電(dian)容(rong)，在(zai)測試(shi)後不必對測試(shi)物(wu)作放(fang)電的(de)動(dong)作，這是另外(wai)壹(yi)個(ge)優點。

2.3.1.2交流(liu)（AC）測(ce)試的(de)缺(que)點
1.主要的(de)缺(que)點為，如(ru)果待測物(wu)的(de)雜散(san)電(dian)容(rong)量很(hen)大(da)或(huo)待測物(wu)為電(dian)容(rong)性(xing)負載(zai)時(shi)，這樣(yang)所(suo)產生的(de)電流(liu)會遠(yuan)大(da)於實(shi)際的(de)漏電電流，因(yin)而(er)無(wu)法得(de)知(zhi)實(shi)際的(de)漏電電流。
2.另外(wai)壹(yi)個(ge)缺(que)點是由(you)於必須供(gong)應(ying)待測物(wu)的(de)雜散(san)電(dian)容(rong)所(suo)需(xu)的(de)電流(liu)，儀器所需(xu)輸出的(de)電流(liu)會比采用直流測試時(shi)的(de)電流(liu)大很(hen)多(duo)。這樣(yang)會增(zeng)加操作人(ren)員的(de)危險(xian)性。

2.3. 2直流（DC）測試的(de)特點
在(zai)直流耐壓(ya)測試(shi)時(shi)，待測物(wu)上(shang)的(de)雜散(san)電(dian)容(rong)被(bei)充(chong)滿，直流耐壓(ya)測試(shi)時(shi)所造(zao)成(cheng)的(de)容(rong)性(xing)電(dian)流(liu)，在(zai)雜散(san)電(dian)容(rong)被(bei)充(chong)滿後，會下降(jiang)到零。

2.3.2.1直流（DC）測試的(de)優點
1.壹(yi)旦待測物(wu)上(shang)雜散(san)電(dian)容(rong)被(bei)充(chong)滿，只(zhi)會剩下待測物(wu)實(shi)際的(de)漏電電流。直流耐壓(ya)測試(shi)可以(yi)很(hen)清(qing)楚(chu)的(de)顯示(shi)出待測物(wu)實(shi)際的(de)漏電電流。
2.另外(wai)壹(yi)個(ge)優點是由(you)於僅需(xu)在(zai)短時(shi)間(jian)內(nei)，供應(ying)待測物(wu)的(de)充(chong)電電(dian)流(liu)，其(qi)它時(shi)間(jian)所需(xu)供的(de)電流(liu)非常小(xiao)，所(suo)以(yi)儀器的(de)電流(liu)容(rong)量遠(yuan)低(di)於交流(liu)耐壓(ya)測試(shi)時(shi)所需(xu)的(de)電流(liu)容(rong)量。

2.3.2.2直流（DC）測試的(de)缺(que)點
1.除(chu)非待測物(wu)上(shang)沒有任何(he)電(dian)容(rong)量存(cun)在(zai)，否(fou)則(ze)測(ce)試(shi)電(dian)壓必須由(you)“零"開始，緩(huan)慢上(shang)升，以(yi)避免充(chong)電電(dian)流(liu)過(guo)大，電容(rong)量越大(da)所需(xu)的(de)緩(huan)升時(shi)間(jian)越長(chang)，壹(yi)次(ci)所能(neng)增(zeng)加的(de)電壓(ya)也越低(di)。充(chong)電電(dian)流(liu)過(guo)大時(shi)，壹(yi)定(ding)會引起(qi)測(ce)試器(qi)的(de)誤判(pan)，使(shi)測(ce)試的(de)結(jie)果不正(zheng)確。
2.由(you)於直流耐壓(ya)測試(shi)會對待測物(wu)充(chong)電，所(suo)以(yi)在(zai)測試(shi)後，壹(yi)定(ding)要先對待測物(wu)放(fang)電，才能做(zuo)下壹(yi)步(bu)工作。
3.與交(jiao)流(liu)測試不(bu)壹(yi)樣(yang)，直流耐壓(ya)測試(shi)只能(neng)單壹(yi)極(ji)性測(ce)試，如(ru)果產品(pin)要使(shi)用於交流(liu)電(dian)壓下，這個缺(que)點必須考慮。這也是(shi)大多(duo)數安(an)規單位(wei)都建(jian)議使(shi)用交(jiao)流(liu)耐壓(ya)測試(shi)的(de)原因(yin)。
4.在(zai)交流(liu)測試時(shi)，電壓(ya)的(de)波峰(feng)值(zhi)是電表顯(xian)示(shi)的(de)1.4倍，這壹(yi)點是壹(yi)般電表所不(bu)能(neng)顯(xian)示的(de)，也是(shi)直流耐壓(ya)所無(wu)法達(da)到的(de)。所以(yi)多數安(an)規單位(wei)都要求(qiu)，如(ru)果使(shi)用直流耐壓(ya)測試(shi)，必須提高(gao)測試(shi)電壓(ya)到相(xiang)等的(de)數值。

2.4只(zhi)有耐壓(ya)測試(shi)能檢(jian)測(ce)出下列狀況
·絕(jue)緣材料(liao)的(de)絕(jue)緣強(qiang)度(du)太(tai)弱
·絕(jue)緣體上(shang)有針(zhen)孔
·零組件之間(jian)的(de)距(ju)離(li)不夠(gou)
·絕(jue)緣體被擠(ji)壓而(er)破裂