小(xiao)型(xing)斷路(lu)器(qi)老化(hua)動(dong)作(zuo)特性控制(zhi)臺(tai) 功(gong)能： 對(dui)額定(ding)電流(liu)1A-63A小(xiao)型斷路(lu)器(qi)進行老化(hua)測(ce)試。 該(gai)設(she)備用(yong)於小型斷(duan)路(lu)器(qi)短路(lu)動(dong)作特性出(chu)廠檢驗.符(fu)合(he)GB10963、GB/T14048.1等國家現有(you)小(xiao)型(xing)斷路(lu)器(qi)標(biao)準中(zhong)有(you)關(guan)測(ce)試要(yao)求.符(fu)合(he)IEC60898-95、IEC60947-1-1999等現有小型(xing)斷(duan)路(lu)器(qi)標(biao)準中(zhong)有(you)關(guan)測(ce)試要(yao)求. 技(ji)術參(can)數(shu)：

小(xiao)型(xing)斷路(lu)器(qi)自動(dong)延時(shi)延時(shi)動(dong)作特性校驗臺(tai) 產品(pin)詳情(qing) 改(gai)設(she)備(bei)根(gen)據GB10963.1-2005《家用(yong)及類(lei)似(si)場所用(yong)過電流(liu)保(bao)護斷(duan)路(lu)器(qi)》等標(biao)準和用(yong)戶特殊要(yao)求而研(yan)制(zhi)的壹種(zhong)專為小型(xing)斷(duan)路(lu)器(qi)延時(shi)動(dong)作特性校驗的智(zhi)能型半自動(dong)校驗臺(tai)。 該(gai)設(she)備采(cai)用(yong)了(le)微處理器(qi)控制(zhi)及智(zhi)能調節算(suan)法(fa)自動(dong)校驗小型斷路(lu)器(qi)延時(shi)動(dong)作特性，試品(pin)校驗後特性*性高。新(xin)型自動(dong)校驗臺(tai)不僅(jin)提(ti)高了(le)小型(xing)斷(duan)路(lu)器(qi)的質(zhi)量，同時(shi)也(ye)提高了(le)生

斷(duan)路(lu)器(qi)瞬(shun)時(shi)特性和脫(tuo)扣(kou)特性壽(shou)命試驗臺(tai) 詳細描(miao)述 壹(yi)、設備概述： 本斷(duan)路(lu)器(qi)綜(zong)合(he)壽(shou)命試驗機(ji)是GOSUN科(ke)技(ji)根據GB10963.1-2005（電氣附(fu)件--家(jia)用(yong)及類(lei)似(si)場所用(yong)過電流(liu)保(bao)護斷(duan)路(lu)器(qi)：第1部分）標(biao)準要(yao)求而設計開發壹(yi)種(zhong)新(xin)型斷(duan)路(lu)器(qi)壽(shou)命試驗機(ji)。本斷(duan)路(lu)器(qi)壽(shou)命試驗機(ji)由變壓(ya)器、調(tiao)壓(ya)器、交(jiao)流(liu)接觸器、時(shi)間(jian)繼(ji)電器、高精度(du)電壓(ya)表、峰(feng)值(zhi)表(biao)、指(zhi)示(shi)燈、按(an)鈕(niu)等各(ge)種(zhong)新(xin)型元器(qi)件組裝而成，可(ke)供小(xiao)型(xing)斷(duan)路(lu)器(qi)生產廠家或(huo)有

熔斷器動(dong)作特性試驗裝置 詳細描(miao)述 壹(yi)、設備概述： 本試驗臺(tai)滿(man)足GB13539.1-2008低(di)壓(ya)熔斷器第1部分第8.4的標(biao)準要(yao)求，檢(jian)測(ce)熔斷器的(de)動作特性，包括(kuo)約定(ding)不熔斷電流(liu)與(yu)約定(ding)熔斷電流(liu)驗證、“g”熔斷器的(de)額定電流(liu)驗證、時(shi)間(jian)-電流(liu)特性等等；為各(ge)質(zhi)檢所以(yi)及熔斷器廠(chang)家提供壹(yi)套(tao)全面方便的(de)檢測(ce)方案(an)。 二(er)、系統(tong)組成： 本試驗機(ji)由2臺(tai)大(da)功(gong)率恒(heng)流(liu)源、PLC可(ke)編(bian)程控制器、電腦(nao)、電流(liu)變送(song)器、電流(liu)傳(chuan)